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LTC1296BIN#PBF技术参数

  • 制造厂商:ADI(Analog Devices,亚德诺半导体)
  • 类别封装:数据采集 - ADC-DAC - 专用型,产品封装:20-DIP(0.300,7.62mm)
  • 技术参数:IC DAS/ADC 12BIT 46.5K 20DIP
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LTC1296BIN#PBF技术参数详情说明:

LTC1296BIN#PBF是亚德诺半导体(ADI)推出的一款高集成度数据采集系统(DAS)芯片,采用20引脚DIP封装,专为工业级温度范围(-40°C至85°C)下的精密测量应用而设计。该器件将多路复用器、采样保持电路和12位模数转换器(ADC)集成于单一芯片内,构成了一个完整的信号链前端解决方案,显著简化了系统设计并提高了可靠性。

其核心架构基于逐次逼近寄存器(SAR)型ADC,结合了低噪声、高精度的模拟前端。芯片内部集成了一个8通道单端或4通道差分的模拟多路复用器,允许灵活配置输入信号类型。采样率最高可达46.5kSPS,确保了动态信号的准确捕获。该器件支持双极性±5V和单极性5V供电,为处理正负摆幅的工业信号提供了便利。其数据接口同时提供了串行和并行两种模式,串行接口(三线制)节省微控制器I/O资源,而并行接口则便于与微处理器或DSP进行高速数据交换,这种双接口设计赋予了系统设计者极大的灵活性。

在功能层面,LTC1296BIN#PBF具备优异的线性度和低失调误差,其12位分辨率保证了足够的测量精度。内置的采样保持电路具有快速的采集时间,能够有效跟踪输入信号的变化。芯片的功耗经过优化,在保证性能的同时兼顾了能效。对于需要稳定可靠元器件供应的项目,通过ADI一级代理商进行采购是确保产品正品与供货周期的有效途径。

从接口与参数来看,该芯片的模拟输入范围可通过外部参考电压进行设定,适应不同的信号幅度。其工作温度覆盖工业级标准,使其能够胜任环境苛刻的场合。通孔(DIP)封装形式便于在原型开发或需要高可靠性的板卡上进行焊接与测试。

在应用场景上,LTC1296BIN#PBF非常适合用于工业过程控制、自动化测试设备、电机控制、医疗仪器以及多通道传感器数据记录系统。其高集成度和双接口特性,使其成为构建紧凑型、高性价比多通道数据采集模块的理想选择。

  • 制造商产品型号:LTC1296BIN#PBF
  • 制造商:AD/ADI(Analog Devices,亚德诺半导体)
  • 描述:IC DAS/ADC 12BIT 46.5K 20DIP
  • 产品系列:数据采集 - ADC-DAC - 专用型
  • 包装:管件
  • 系列:-
  • 零件状态:有源
  • 类型:数据采集系统(DAS),ADC
  • 通道数:8
  • 分辨率(位):12 b
  • 采样率(每秒):46.5k
  • 数据接口:串行,并联
  • 供电电压源:双 ±
  • 电压-供电:±5V,5V
  • 工作温度:-40°C ~ 85°C
  • 安装类型:通孔
  • 产品封装:20-DIP(0.300,7.62mm)
  • 更多产品技术参数细节,请下载技术文档后获取。

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