

EVAL-ADXL343Z-S技术参数
- 制造厂商:ADI(Analog Devices,亚德诺半导体)
- 类别封装:评估板 - 传感器,传感器类型:加速计,3 轴
- 技术参数:BOARD SATELLITE FOR ADXL343
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EVAL-ADXL343Z-S技术参数详情说明:
EVAL-ADXL343Z-S是亚德诺半导体(Analog Devices)推出的一款专为ADXL343三轴数字MEMS加速度计设计的卫星评估板。该板卡作为快速原型开发和功能验证平台,其核心架构紧密围绕ADXL343芯片构建,通过精心设计的板载电路和接口,将传感器内部集成的多晶硅表面微加工传感单元与CMOS信号调理电路的优势完整地呈现给开发者。板载电路确保了传感器在宽电压范围内的稳定供电与信号完整性,使得用户能够直接通过标准数字接口访问传感器的原始数据与丰富功能寄存器,从而高效评估其在实际应用中的性能表现。
该评估板完整展现了ADXL343加速度计的关键功能特性。其支持±2g、±4g、±8g及±16g四个可编程测量范围,用户可根据应用对动态范围与分辨率的需求灵活配置,对应的数字输出灵敏度分别为256 LSB/g、128 LSB/g、64 LSB/g及32 LSB/g。板载电平转换与接口电路支持标准IC与SPI数字通信协议,确保了与主流微控制器或处理器的无缝连接。此外,评估板充分体现了传感器低功耗的特性,其工作电压范围覆盖2V至3.6V,非常适合电池供电的便携式设备。通过此评估板,开发者可以便捷地测试传感器的活动/非活动检测、自由落体检测以及敲击检测等内置智能中断功能,这些功能无需主机处理器持续参与,有助于实现系统级的功耗优化。
在接口与参数方面,EVAL-ADXL343Z-S提供了简洁而全面的访问通道。板载连接器将传感器的电源、接地、数字接口(IC的SDA/SCL或SPI的CS/SDI/SDO/SCLK)以及可编程中断引脚全部引出,方便用户进行飞线连接或接入自有系统。其设计完全遵循ADXL343的数据手册规格,使得用户在评估板上观察到的性能参数,如噪声密度、零点g偏移、非线性度等,能够准确反映最终产品中芯片的实际表现。对于需要批量采购或深度技术支持的客户,可以联系专业的ADI代理获取完整的供应链服务与本地化技术支持。
该评估板的应用场景广泛覆盖了需要运动感知、姿态检测或振动监控的各类电子系统。在消费电子领域,它是开发智能手机屏幕旋转、计步器、游戏控制器手势识别的理想起点。在工业物联网中,可用于设备状态监测、资产倾斜报警或物流冲击记录。其小尺寸、低功耗和高集成度的特点,也使其成为可穿戴设备、医疗监护器械以及无人机飞控系统中运动传感模块原型验证的关键工具。通过此评估板进行的前期开发与测试,能显著缩短基于ADXL343传感器的产品上市时间。
- 制造商产品型号:EVAL-ADXL343Z-S
- 制造商:AD/ADI(Analog Devices,亚德诺半导体)
- 描述:BOARD SATELLITE FOR ADXL343
- 系列:评估板 - 传感器
- 零件状态:有源
- 传感器类型:加速计,3 轴
- 感应范围:±2g,4g,8g,16g
- 接口:IC,SPI
- 灵敏度:256LSB/g,128LSB/g,64LSB/g,32LSB/g
- 电压-供电:2V ~ 3.6V
- 嵌入式:无
- 所含物品:板
- 更多产品技术参数细节,请下载技术文档后获取。
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