

ADRF5047BCCZN-R7技术参数
- 制造厂商:ADI(Analog Devices,亚德诺半导体)
- 类别封装:射频开关,封装:20-VFLGA
- 技术参数:LOW-LOSS REFLECTIVE, SP4T, 40GHZ
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ADRF5047BCCZN-R7技术参数详情说明:
ADRF5047BCCZN-R7是一款由亚德诺半导体(ADI)设计生产的超宽带、低损耗反射式单刀四掷(SP4T)射频开关。该器件采用先进的GaAs(砷化镓)工艺制造,其核心架构旨在实现从9kHz到44GHz的极宽频率范围内卓越的射频性能。反射式拓扑结构确保了在所有开关状态下,未选通的端口都能呈现良好的匹配特性,这对于维持系统级联时的信号完整性至关重要,尤其是在多通道切换或测试测量系统中。
该芯片的功能特点突出体现在其极低的插入损耗与出色的隔离度上。在高达44GHz的测试频率下,其典型插入损耗仅为2.7dB,这最大限度地减少了信号通过开关时的功率衰减。同时,端口间高达31dB的隔离度能有效防止通道间的信号串扰,保障了多路信号路径的纯净度。另一个关键性能指标是其高达50dBm的输入三阶交调截点(IIP3),这赋予了器件卓越的线性度,使其能够处理高功率信号而不会产生明显的互调失真,这对于现代高动态范围通信和测试设备而言是核心需求。
在接口与参数方面,ADRF5047BCCZN-R7采用紧凑的20引脚VFLGA封装,非常适合高密度PCB布局。其工作电压范围为3.15V至3.45V,与常见的3.3V数字逻辑电平兼容,简化了供电设计。所有射频端口均设计为标准50欧姆阻抗,便于与系统其他部分无缝集成。器件的工作温度范围覆盖-40°C至105°C(外壳温度),确保了在严苛工业环境或户外应用中的可靠性。对于需要稳定供货和技术支持的客户,可以通过专业的ADI芯片代理获取该产品及相关设计资源。
基于其从直流到毫米波前端的超宽带覆盖和优异的射频性能,ADRF5047BCCZN-R7非常适合应用于对频率和线性度要求极高的场景。主要应用领域包括卫星通信(VSAT)系统中的信号路由与切换、5G及未来6G毫米波基础设施的测试与测量设备、航空航天与国防电子中的宽带收发模块,以及高级自动化测试设备(ATE)中的高频信号切换矩阵。其低损耗和高线性度的特性使其成为构建高性能、多通道射频前端系统的理想选择。
- 制造商产品型号:ADRF5047BCCZN-R7
- 制造商:AD/ADI(Analog Devices,亚德诺半导体)
- 描述:LOW-LOSS REFLECTIVE, SP4T, 40GHZ
- 系列:射频开关
- 零件状态:有源
- 射频类型:VSAT
- 拓扑:反射
- 电路:SP4T
- 频率范围:9kHz ~ 44GHz
- 隔离:31dB
- 插损:2.7dB
- 测试频率:44GHz
- P1dB:-
- IIP3:50dBm
- 特性:-
- 阻抗:50 欧姆
- 电压-供电:3.15V ~ 3.45V
- 工作温度:-40°C ~ 105°C(TC)
- 封装:20-VFLGA
- 更多产品技术参数细节,请下载技术文档后获取。
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